CHIMICA FISICA APPLICATA DEI MATERIALI

Anno accademico 2016/2017 - 2° anno
Docente: Giovanni MARLETTA
Crediti: 6
SSD: CHIM/02 - CHIMICA FISICA
Organizzazione didattica: 150 ore d'impegno totale, 102 di studio individuale, 48 di lezione frontale
Semestre:

Obiettivi formativi

Il corso intende fornire agli studenti dell'ultimo anno del CdL Magistrale di Chimica dei Materiali una serie di esempi, tecnologicamente rilevanti nell'ambito della scienza e tecnologia dei materiali, di applicazioni di metodologie chimico-fisiche alle metodiche di preparazione, modifica e caratterizzazione di materiali funzionali. Saranno in particolare esposti argomenti connessi alla micro- e nanoelettronica, alle tecnologie fotovoltaiche ed alla preparazione di superfici ed interfacce funzionali di interesse nel campo dei processi di integrazione di componenti di dispositivi complessi.


Prerequisiti richiesti

Conoscenza delle nozioni di base di Termodinamica, Meccanica Quantistica e Spettroscopia molecolare, come da corsi di laurea triennale di Chimica e Chimica Industriale. Nozioni di base di chimica delle Macromolecole. Nozioni di base sulle funzioni reali e complesse; capacità di sviluppare ed usare semplici derivate e risolvere semplici integrali; comprensione dell'uso di equazioni differenziali del 1° e del 2° ordine. Conoscenze di base di Fisica Generale, includenti nozioni di meccanica classica, di elettricità, magnetismo ed ottica.


Frequenza lezioni

Frequenza obbligatoria. Sono ammesse assenze nei limiti definiti dal vigente Regolamento Didattico di Ateneo.


Contenuti del corso

  • Metodi per l’ottenimento di sistemi micro- e nano strutturati.

Metodologie di patterning. Approcci top-down e bottom-up. Metodi litografici: litografia ottica, e-beam ed ion-beam lithography. Soft lithography. Metodologie di patterning non litografiche - Metodi basati sull’interazione con plasmi freddi.

  • Metodologie per la caratterizzazione spazialmente risolta di film sottili e superfici - Microscopie a scansione di sonda: AFM, STM, SNOM - Metodi basati su fasci ionici ed elettronici - Spettrometria di Massa a Ioni Secondari (SIMS e ToF-SIMS) - Low Energy Ion and atom Scattering Spectroscopy (LEIS) - Spettroscopia di fotoelettroni.

Testi di riferimento

Dato il carattere non convenzionale del corso, con una specifica attenzione a tecnologie e metodologie in continua evoluzione, non è disponibile alcun testo di riferimento. Si forniranno, quindi, dispense, articoli specialistici e appunti di lezione.