Valentina SPAMPINATO
Valentina Spampinato, attualmente ricercatrice a tempo determinato in Chimica Fisica presso il Dipartimento di Scienze Chimiche dell’Università di Catania, è una scienziata dei materiali il cui lavoro si concentra principalmente sulla caratterizzazione chimico-fisica di diversi tipi di materiali con applicazioni in microelettronica, optoelettronica e scienze della vita, mediante tecniche quali Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS), Microscopia a Forza Atomica (AFM) e Spettroscopia Fotoelettronica a Raggi X (XPS).
Dal 2015 al 2023, Valentina ha lavorato come ricercatrice nel dipartimento di Analisi dei Materiali e Componenti del centro di ricerca microelettronica IMEC, in Belgio, dove ha sviluppato nuove metodologie, come l’approccio correlativo in-situ SIMS-AFM, l’ibrido ToF-Orbitrap-SIMS e metodiche SIMS di “self-focusing”, per la caratterizzazione di una varietà di materiali avanzati impiegati nel settore della microelettronica. Nel 2015, ha lavorato per il Consiglio Nazionale delle Ricerche (CNR-ISTP), dove ha sviluppato metodologie per l’uso efficiente dell’energia solare e lo stoccaggio di idrogeno. Tra il 2012 e il 2015, ha supportato il gruppo di bionanoscienze del Joint Research Centre della Commissione Europea, occupandosi della caratterizzazione chimico-fisica di nanoparticelle modificate.
Nel 2012, Valentina ha conseguito il dottorato di ricerca in Scienza dei Materiali presso l’Università di Catania, con una tesi sulla modifica e caratterizzazione superficiale di sistemi con applicazioni in optoelettronica, dopo essersi laureata con lode in Chimica nel 2008.
Nel corso della sua carriera, è autrice di circa 66 pubblicazioni su riviste internazionali peer-reviewed e ha presentato i risultati delle sue ricerche in circa 30 conferenze, di cui 6 su invito.
Ultimo aggiornamento: 12/09/2025
La mia attività di ricerca si colloca nell’ambito della chimica fisica e della scienza dei materiali, con un focus particolare sulla modifica e caratterizzazione chimico-fisica di superfici di diversa natura funzionalizzate con sistemi organici, ibridi e supramolecolari, destinati ad applicazioni nell’elettronica molecolare, nella microelettronica e nella produzione alternativa e sostenibile di energia.
Tra le tecniche di indagine, la spettrometria di massa di ioni secondari a tempo di volo (ToF-SIMS) riveste un ruolo centrale, in quanto consente di ottenere informazioni dettagliate sulla chimica dei sistemi analizzati sia in superficie, sia alle interfacce, sia in profondità. A supporto di tali studi, la caratterizzazione chimico-fisica dei materiali da me sviluppati è spesso integrata da altre tecniche avanzate, quali la microscopia a forza atomica (AFM) e la spettroscopia fotoelettronica a raggi X (XPS).