Alberto TORRISI

Si comunica agli studenti interessati che la prova scritta prevista per il 19 febbraio p.v. è stata spostata al 20 febbraio  con inizio sempre alle 8.30 e sempre in aula D.

Nitric oxide assisted C60-SIMS for molecular depth profiling of polyelectrolyte multilayers

G.Zappalà, N.Tuccitto, S.Vitale, A.Torrisi, A.Licciardello

Rapid Communication in Mass Spectrometry, 29 (2015) 2204–2210

A wavelet-PCA method saves high mass resolution information in data treatment of SIMS

       molecular depth profiles  

N.Tuccitto, G.Zappalà, S.Vitale, A.Torrisi, A.Licciardello

Surface and Interface Analysis, vol. 48 (2016), 317-327, ISSN: 0142-2421, doi: 10.1002/sia5943

SIMS characterisation of surface-modified nanostructured titania electrodes